Издательство ДМК Пресс
Официальный сайт издательства ДМК Пресс

Издание книг dmkpress@gmail.com

Оптовая продажа books@alians-kniga.ru

Моя корзина
В корзине нет ни одного товара

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий
Автор: Батоврин В.К.
Дата выхода: 01 марта 2005 года
Формат: 165 * 235 мм
Бумага: офсетная
Обложка: Мягкая обложка
Объем, стр.: 208
ISBN: 978-5-94074-267-8
Вес, гр.: 400

Файлы к книге

Купить электронную книгу

Аннотация к книге

Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений и методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Основой представленного в настоящем издании практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW. Программное обеспечение является оригинальной разработкой авторов учебного пособия и представлено на сайте издательства. Издание предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по специальностям «Приборостроение», «Информационно-измерительная техника и технологии», «Методы и средства измерений», а также для студентов других направлений подготовки, изучающих смежные дисциплины.